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发明名称
监测离子植入机台之方法
摘要
本案系为一种监测离子植入机台之方法,该方法系包含下列步骤:提供一晶圆;形成一阻挡层于该晶圆表面,该阻挡层对离子植入有实质上阻挡的效果;对该晶圆进行一离子植入制程;施行一热处理程序;移除该阻挡层;以及量测该晶圆之物质特性。
申请公布号
TW200522240
申请公布日期
2005.07.01
申请号
TW092137173
申请日期
2003.12.26
申请人
台湾茂矽电子股份有限公司
发明人
林俊德;杨志申;李宏志;陈达德
分类号
H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
王丽茹;曾国轩
主权项
地址
新竹市科学工业园区力行路19号
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