发明名称 监测离子植入机台之方法
摘要 本案系为一种监测离子植入机台之方法,该方法系包含下列步骤:提供一晶圆;形成一阻挡层于该晶圆表面,该阻挡层对离子植入有实质上阻挡的效果;对该晶圆进行一离子植入制程;施行一热处理程序;移除该阻挡层;以及量测该晶圆之物质特性。
申请公布号 TW200522240 申请公布日期 2005.07.01
申请号 TW092137173 申请日期 2003.12.26
申请人 台湾茂矽电子股份有限公司 发明人 林俊德;杨志申;李宏志;陈达德
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 王丽茹;曾国轩
主权项
地址 新竹市科学工业园区力行路19号