发明名称 METHOD FOR COLLECTING DATA DETECTED BY PROMETRIX EQUIPMENT DURING MANUFACTURING SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR100498600(B1) 申请公布日期 2005.07.01
申请号 KR19990024870 申请日期 1999.06.28
申请人 发明人
分类号 H01L21/02;(IPC1-7):H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
地址