| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen der Erkennbarkeit mindestens eines Fehlers in einem Bauteil oder zur Auswertung von Ultraschall-Signalen des Fehlers. Das Verfahren sieht vor, dass eine elektronische Spezifikation des Fehlers erzeugt wird, die ein zwei- oder dreidimensionales Punktemuster umfasst. Diese Spezifikation gibt Anzahl, Lage, Form, Orientierung und Ausdehnung von gezielt zu erzeugenden Fehlern vor. Ein Probekörper wird hergestellt, wobei für jeden Punkt des Punktemusters ein Mikroriss an der Position dieses Punktes erzeugt wird. Ein Ultraschall-Bild des Probekörpers wird aufgenommen und ausgewertet. Vorzugsweise wird der Probekörper aus einem für sichtbares Licht durchlässigen Werkstoff, z. B. Kron-, Borosilikat- oder Quarzglas, gefertigt. Die Mikrorisse werden bevorzugt mittels Laser-Innengravur hergestellt. |
