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发明名称 HANDLER FOR TESTING SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR20050066313(A) 申请公布日期 2005.06.30
申请号 KR20030097583 申请日期 2003.12.26
申请人 MIRAE CORPORATION 发明人 PARK, JAE WAN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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