发明名称 |
Technik zur Herstellung einer Gateelektrode unter Anwendung einer Hartmaske |
摘要 |
Der anisotrope Ätzprozess zur Herstellung von Schaltungselementen, etwa einer Gateelektrode, wird erreicht, indem eine Hartmaske anstelle eines Lackstrukturelements verwendet wird, wodurch ein komplexer Lackschrumpfprozess vermieden wird, wenn kritische Abmessungen erforderlich sind, die deutlich unterhalb des Auflösungsvermögens der verwendeten Photolithographie liegen. Ferner kann die kritische Abmessung mittels eines Abscheideprozesses anstelle eines Lackschrumpfprozesses eingestellt werden.
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申请公布号 |
DE10355581(A1) |
申请公布日期 |
2005.06.30 |
申请号 |
DE20031055581 |
申请日期 |
2003.11.28 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
AMINPUR, MASSUD-A.;HELLIG, KAY |
分类号 |
H01L21/28;H01L21/332;H01L21/336;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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