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发明名称 SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
摘要
申请公布号 KR20050065689(A) 申请公布日期 2005.06.30
申请号 KR20030095135 申请日期 2003.12.23
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JEON, KI SEOK;KIM, BYOUNG SUL
分类号 G11C29/00;G01R31/28;G11C5/00;G11C7/00;G11C29/10;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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