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发明名称 SENSING TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP1547093(A2) 申请公布日期 2005.06.29
申请号 EP20030753382 申请日期 2003.09.03
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 TAKASHIMA, DAISABURO;JACOB, MICHAEL;JOACHIM, HANS-OLIVER;ROEHR, THOMAS;WOHLFAHRT, JOERG
分类号 G11C29/50;(IPC1-7):G11C29/00;G11C11/22 主分类号 G11C29/50
代理机构 代理人
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