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发明名称 METHOD AND CIRCUITRY FOR IDENTIFYING WEAK BITS IN AN MRAM
摘要
申请公布号 EP1547094(A1) 申请公布日期 2005.06.29
申请号 EP20030798674 申请日期 2003.07.22
申请人 FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. 发明人 NAHAS, JOSEPH, J.;ANDRE, THOMAS, W.;GARNI, BRADLEY, J.
分类号 G11C11/16;G11C29/12;(IPC1-7):G11C29/00;G11C11/15;G11C17/14;G11C17/16 主分类号 G11C11/16
代理机构 代理人
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