发明名称 Verfahren zum Erzeugen eines Abbildungsfehler vermeidenden Maskenlayouts für eine Maske
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Erzeugen eines Abbildungsfehler vermeidenden Maskenlayouts (20') für eine Maske (10), bei dem ein OPC-Verfahren (250) eingesetzt wird. DOLLAR A Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art dahingehend zu verbessern, dass Abbildungsfehler durch Nachbarschaftseffekte noch besser als zuvor reduziert werden. DOLLAR A Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, dass vor der Durchführung des OPC-Verfahrens (250) aus einem vorläufigen Hilfsmaskenlayout (110) zunächst ein modifiziertes Hilfsmaskenlayout (220) gebildet wird, indem in einem ersten Modifikationsschritt (130) die Maskenstrukturen (100) des vorläufigen Hilfsmaskenlayouts (110) unter Bildung veränderter Maskenstrukturen (110') gemäß einem vorgegebenen Regelsatz vergrößert, insbesondere verbreitert, oder verkleinert werden und anschließend die veränderten Maskenstrukturen (110') gemäß vorgegebener Platzierungsregeln (130) um optisch nicht auflösbare Hilfsstrukturen (150) unter Bildung des modifizierten Hilfsmaskenlayouts (200) ergänzt werden und das Maskenlayout (20') mit dem OPC-Verfahren (250) unter Heranziehung des modifizierten Hilfsmaskenlayouts (200) erzeugt wird.
申请公布号 DE10353798(A1) 申请公布日期 2005.06.23
申请号 DE2003153798 申请日期 2003.11.13
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SEMMLER, ARMIN
分类号 G03F1/00;G03F1/36;G03F7/20;G03F9/00;G06F17/00;G06F17/50;G21K5/00 主分类号 G03F1/00
代理机构 代理人
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