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发明名称
Einrichtung zum Testen der Funktionstüchtigkeit einer kontaktbehafteten Chipkarte
摘要
申请公布号
DE50010323(D1)
申请公布日期
2005.06.23
申请号
DE20005010323
申请日期
2000.02.09
申请人
BOEWE CARDTEC GMBH
发明人
KONZE, BERNHARD;VELSEN, J-RGEN;GROSS, HANS-GERD
分类号
G01R31/30;(IPC1-7):G01R31/30
主分类号
G01R31/30
代理机构
代理人
主权项
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