发明名称 小型元件检测托盘用治具
摘要 一种小型元件检测托盘用治具,该治具包含数个定位柱、数个组合孔及数个防屑透孔。该治具系属一平板治具,其系由不易沾黏异物材质制成。在该平板治具之数个预定位置上设置该组合孔,以便对应组装该定位柱。在组装该定位柱后,该定位柱可凸设于该平板治具之上表面,以便组合一检测托盘。另外,该平板治具设有数个防屑透孔,以便允许碎屑可经由该防屑透孔掉落至地面。
申请公布号 TWM268731 申请公布日期 2005.06.21
申请号 TW093221231 申请日期 2004.12.30
申请人 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 CHIPMOS TECHNOLOGIES (BERMUDA) LTD. 百慕达 发明人 张茵茵
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 陈启舜 高雄市苓雅区中正一路284号12楼
主权项 1.一种小型元件检测托盘用治具,其包含:一平板治具,其用以承载一检测托盘,该平板治具之上表面设有数个组合孔;及至少二定位柱,其预定组装于该平板治具之组合孔,该定位柱用以组装定位该检测托盘;其中在进行组装该检测托盘时,该定位柱可依该检测托盘之各种规格尺寸可调整相对固定位置。2.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该平板治具系由不易沾黏异物材质制成。3.依申请专利范围第2项之小型元件检测托盘用治具,其中该平板治具之不易沾黏异物材质系属不锈钢。4.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该定位柱系由不易沾黏异物材质制成。5.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该定位柱相对该平板治具之中心设置。6.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该定位柱设有一螺杆,以便将该定位柱进行适当螺合于该平板治具之组合孔。7.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该平板治具设有该防屑透孔,以允许碎屑可经由该防屑透孔掉落至地面。8.依申请专利范围第1项之小型元件检测托盘用治具,其中该检测托盘设置一底凹室,在进行组装该检测托盘时,该定位柱延伸入该底凹室内。9.依申请专利范围第8项之小型元件检测托盘用治具,其中该检测托盘之底凹室设有一内壁面,该定位柱适当紧配合卡掣该底凹室之内壁面。图式简单说明:第1图:本创作较佳实施例小型元件检测托盘用治具及检测托盘之分解立体图。第2图:本创作较佳实施例小型元件检测托盘用治具及检测托盘之上视图。第3图:本创作第2图沿3-3线之剖视图。
地址 新竹市新竹科学工业园区研发一路1号