发明名称 具有改良式写入/抹除特性多层双位元记忆体的制造方法
摘要 揭露一具有改良式写入/抹除功能之双位元记忆体多重结构及其制造方法。此结构包含位于中间介电层或氮化层两侧的一对浮动闸,用来定义两个电子之储存位置,以代表自中间介电层收集的双重资料位元。
申请公布号 TW200520169 申请公布日期 2005.06.16
申请号 TW093134986 申请日期 2004.11.15
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 杨青天;林睦益;曾铕寪;曹敏;李豫华
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号