发明名称 液晶的黏性系数测定方法及装置
摘要 提供一种液晶的黏性系数测定方法及装置,能够较为容易且高精确度地测定上述之中会支配回应速度的旋转黏性系数γ1和Miesowicz的黏性系数η1,及η2。一种液晶的黏性系数测定方法,系属于藉由回应特性之Ericksen-Leslie理论值和实测值的适配(fitting)来决定黏性系数之值的液晶的黏性系数测定方法,其中,以并行配向(homogenious alignment)的液晶胞10当作测定对象,首先在第1步骤测定ON回应特性并根据其结果来决定旋转黏性系数γ1的值,其次在第2步骤测定OFF回应特性并根据其结果来决定Miesowicz黏性系数之剪力黏性系数η1、η2的值。第1步骤的计算中,γ1以外的黏性系数是使用一般的值。第2步骤之计算中,γ1则使用第1步骤中所决定的值。
申请公布号 TW200519370 申请公布日期 2005.06.16
申请号 TW093130641 申请日期 2004.10.08
申请人 内田龙男;东北技术智力股份有限公司;财团法人21青森产业总合支援中心 发明人 宫下哲哉;内田龙男;石锅隆宏
分类号 G01N21/59 主分类号 G01N21/59
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本