发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 〔课题〕本发明提供一种半导体装置之制造方法,使用多孔质绝缘层以制造电性或可靠度良好的半导体装置。〔解决手段〕在半导体基底1上涂布含有绝缘层前驱体以及孔洞形成材料的绝缘层组合物,之后,对绝缘层组合物进行第1加热处理,在不气化孔洞形成材料的状态下,聚合绝缘层前驱体以形成非多孔性绝缘层。其次,在非多孔性绝缘层上形成光阻图案,以光阻图案当作罩幕,并进行非多孔性绝缘层的乾蚀刻,以在非多孔性绝缘层形成沟槽。藉由灰化步骤去除不需要的光阻图案,之后,洗净半导体基底的表面。然后,进行第2加热处理,藉由从非多孔性绝缘层去除孔洞形成材料以形成多孔性绝缘层7,然后,隔着阻障金属层8,将铜层9填入于沟槽以形成铜导线。
申请公布号 TW200520093 申请公布日期 2005.06.16
申请号 TW093133181 申请日期 2004.11.01
申请人 半导体先端科技股份有限公司 发明人 汤之上隆;实泽佳居
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本