发明名称 静电破坏保护装置
摘要 本发明之目的在提供一种可以充分保护被保护装置免受静电破坏,并且防止保护电晶体本身的破坏之静电破坏保护装置。本发明系于输出端子100与接地电位Vss之间串联连接作为保护电晶体之N通道型第一MOS电晶体TrA及第二MOS电晶体TrB。另一方面,在高电源电位HVdd与输出端子100之间串联连接作为保护电晶体之P通道型第三MOS电晶体TrC及第四MOS电晶体TrD。该等第一、第二、第三及第四MOS电晶体TrA、TrB、TrC、TrD,系由低耐压的MOS电晶体构成。
申请公布号 TW200520199 申请公布日期 2005.06.16
申请号 TW093131769 申请日期 2004.10.20
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 安藤亮一;植本彰;垣内俊雄
分类号 H01L23/60;H01L27/06;H01L29/00 主分类号 H01L23/60
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本