发明名称 Siliziumkarbid-Halbleitervorrichtung mit Sperrschicht-Feldeffekttransistor, sowie Verfahren zu deren Herstellung
摘要 Eine Siliziumkarbid-Halbleitervorrichtung weist ein Substrat (1) und einen Sperrschicht-Feldeffekttransistor auf. Der Transistor weist auf: eine erste Halbleiterschicht (2), die auf dem Substrat (1) angeordnet ist; eine erste Gateschicht (3), die auf einer Oberfläche der ersten Halbleiterschicht (2) angeordnet ist; eine erste Kanalschicht (7) benachbart der ersten Gateschicht (3) auf dem Substrat (1); eine erste Sourceschicht (4), welche elektrisch mit der ersten Kanalschicht (7) verbunden ist; eine zweite Gateschicht (8) benachbart der ersten Kanalschicht (7), um die erste Kanalschicht (7) einzuschließen; eine zweite Kanalschicht (9) benachbart der zweiten Gateschicht (8), um die zweite Gateschicht (8) einzuschließen; eine dritte Gateschicht (10) benachbart der zweiten Kanalschicht (9), um die zweite Kanalschicht (9) einzuschließen, und eine zweite Sourceschicht (11), welche elektrisch mit der zweiten Kanalschicht (9) verbunden ist.
申请公布号 DE102004054286(A1) 申请公布日期 2005.06.16
申请号 DE20041054286 申请日期 2004.11.10
申请人 DENSO CORP., KARIYA 发明人 KUMAR, RAJESH;MIHAILA, ANDREI;UDREA, FLORIN
分类号 H01L29/80;H01L21/04;H01L21/337;H01L29/24;H01L29/808;(IPC1-7):H01L29/808 主分类号 H01L29/80
代理机构 代理人
主权项
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