用于测试具有TMR元件的磁头的方法和设备

摘要

本发明披露了一种具有通过非破坏性检查来评价TMR元件的隧道阻挡层中的针孔的功能的磁头测试设备。所述测试设备包括：温度控制单元(7)，所述温度控制单元(7)用于设定TMR元件的周围温度；偏压电流控制单元(5)，所述偏压电流控制单元(5)施加用于测量电阻值的电流；元件电阻测量单元(6)以及计算温度系数的CPU(9)。CPU(9)根据温度系数确定隧道阻挡层中的针孔状态。

主权项

1.一种用于测试磁头的设备，所述磁头包括隧道磁阻效应元件(TMR元件)，其特征在于，所述设备包括：测量单元(6)，该测量单元用于测量TMR元件的电阻值；计算单元(9)，该计算单元基于TMR元件的电阻值和周围温度之间的关系计算关于TMR元件电阻值的温度系数；以及确定单元(9)，该确定单元基于温度系数确定被包括在TMR元件中的隧道阻挡层中的针孔状态。