| 发明名称 |
Maximum time interval error test signal generating apparatus not affected by low-pass measuring filter |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1411660(A3) |
申请公布日期 |
2005.06.15 |
| 申请号 |
EP20030023534 |
申请日期 |
2003.10.15 |
| 申请人 |
ANRITSU CORPORATION |
发明人 |
MOCHIZUKI, KEN;SUGIYAMA, OSAMU |
| 分类号 |
H04L27/18;H04B7/26;H04J3/06;H04J3/14;H04L1/20;H04L1/24;H04L25/02;(IPC1-7):H04J3/14;G01R25/00 |
主分类号 |
H04L27/18 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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