发明名称 运行具有改进的线性性的计数辐射检测器的方法
摘要 本发明涉及一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器,特别是计数X射线检测器的方法,在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数的计数率提供计数脉冲;将每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段提供的计数率,通过函数关系换算成实际计数率,或乘以取决于计数率大小的校正系数。校正系数是对各检测器元件(14)或其部分片段事先确定的,用于对由于检测器元件(14)的空载时间形成的、与每时间单位出现的射线量子实际数的计数率的偏差进行校正。本发明方法尤其在高辐射强度下改善了计数辐射检测器的线性性,在X射线CT设备中也能满足线性条件。
申请公布号 CN1627100A 申请公布日期 2005.06.15
申请号 CN200410098374.8 申请日期 2004.12.08
申请人 西门子公司 发明人 比约恩·海斯曼;西尔克·詹森;托马斯·冯德哈尔
分类号 G01T1/17 主分类号 G01T1/17
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 马莹;邵亚丽
主权项 1.一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器,特别是计数X射线检测器的方法,其中,在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数目的计数率提供计数脉冲,其特征在于,将由每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段所提供的计数率,通过函数关系换算成实际的计数率,或者乘以取决于计数率大小的校正系数,所述校正系数是对各检测器元件(14)或者其部分片段事先确定的,并且对由于检测器元件(14)的空载时间而形成的、与每时间单位出现的射线量子的实际数目的计数率的偏差进行校正。
地址 联邦德国慕尼黑