发明名称 | 运行具有改进的线性性的计数辐射检测器的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器,特别是计数X射线检测器的方法,在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数的计数率提供计数脉冲;将每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段提供的计数率,通过函数关系换算成实际计数率,或乘以取决于计数率大小的校正系数。校正系数是对各检测器元件(14)或其部分片段事先确定的,用于对由于检测器元件(14)的空载时间形成的、与每时间单位出现的射线量子实际数的计数率的偏差进行校正。本发明方法尤其在高辐射强度下改善了计数辐射检测器的线性性,在X射线CT设备中也能满足线性条件。 | ||
申请公布号 | CN1627100A | 申请公布日期 | 2005.06.15 |
申请号 | CN200410098374.8 | 申请日期 | 2004.12.08 |
申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 比约恩·海斯曼;西尔克·詹森;托马斯·冯德哈尔 |
分类号 | G01T1/17 | 主分类号 | G01T1/17 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 马莹;邵亚丽 |
主权项 | 1.一种用于运行具有改进的线性性的计数辐射检测器,特别是计数X射线检测器的方法,其中,在运行期间计数辐射检测器(4)的每个检测器元件(14)以取决于每时间单位出现的射线量子数目的计数率提供计数脉冲,其特征在于,将由每个检测器元件(14)或检测器元件(14)的部分片段所提供的计数率,通过函数关系换算成实际的计数率,或者乘以取决于计数率大小的校正系数,所述校正系数是对各检测器元件(14)或者其部分片段事先确定的,并且对由于检测器元件(14)的空载时间而形成的、与每时间单位出现的射线量子的实际数目的计数率的偏差进行校正。 | ||
地址 | 联邦德国慕尼黑 |