发明名称 | 用于改善倍频性能的检测控制装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种在集成电路中实现的倍频器电路。按照本发明的一种检测控制装置,用于响应具有预定频率的输入信号,控制与输入信号同相的第一信号和与输入信号异相的第二信号相乘,该检测控制装置包括:相位检测器,用于输出与第一信号和第二信号之间的相位差成正比的电压;转换器,用于生成与该电压成正比的电流;和驱动缓冲器,用于响应第一和第二缓冲器的输出信号对转换器的输出信号进行缓冲,分别缓冲第一和第二信号,并输出用于控制第三缓冲器的第一控制信号和用于控制第四缓冲器的第二控制信号。通过采用本发明的检测控制装置,即使在处理环境和温度发生变化时也能改善倍频性能。 | ||
申请公布号 | CN1627629A | 申请公布日期 | 2005.06.15 |
申请号 | CN200410100323.4 | 申请日期 | 2001.07.10 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金正镐 |
分类号 | H03B19/14 | 主分类号 | H03B19/14 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 吕晓章;马莹 |
主权项 | 1.一种检测控制装置,用于响应具有预定频率的输入信号,控制与输入信号同相的第一信号和与输入信号异相的第二信号相乘,该检测控制装置包括:相位检测器,用于输出与第一信号和第二信之间的相位差成正比的电压;转换器,用于生成与该电压成正比的电流;和驱动缓冲器,用于响应第一和第二缓冲器的输出信号对转换器的输出信号进行缓冲,分别缓冲第一和第二信号,并输出用于控制第三缓冲器的第一控制信号和用于控制第四缓冲器的第二控制信号。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |