| 发明名称 |
METHOD FOR TESTING A SEMICONDUCTOR, APPARATUS FOR PERFORMING THE SAME AND SEMICONDUCTOR MEMORY FOR TESTING |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050055464(A) |
申请公布日期 |
2005.06.13 |
| 申请号 |
KR20030088677 |
申请日期 |
2003.12.08 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
SEO, SEONG YOUNG |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C29/12;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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