发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING A SINGLE BUFFER SELECTING INPUT TERMINAL AND METHOD OF TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 KR20050055167(A) 申请公布日期 2005.06.13
申请号 KR20030088109 申请日期 2003.12.05
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, SEUNG HOON;SHIN, DONG HAK
分类号 G11C29/00;G11C8/00;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址