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发明名称
SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING A SINGLE BUFFER SELECTING INPUT TERMINAL AND METHOD OF TESTING THE SAME
摘要
申请公布号
KR20050055167(A)
申请公布日期
2005.06.13
申请号
KR20030088109
申请日期
2003.12.05
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人
LEE, SEUNG HOON;SHIN, DONG HAK
分类号
G11C29/00;G11C8/00;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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