发明名称 自动光学检测装置
摘要 一种自动光学检测装置,应用于检测电路板,包含:一影像撷取装置、一斜板、一滑轨以及一滚轴组。影像撷取装置,用以撷取电路板表面之影像。斜板位于影像撷取装置前方,用以撑扥电路板,其中更具有一检测窗,使得影像撷取装置得以透过检测窗撷取电路板影像。滑轨位于斜板下方,用以承载并带动电路板进行检测。滚轴组位于检测窗前方,用以夹持电路板,其中滚轴组更包含二下滚轴以及二上滚轴,二下滚轴系分别设置于检测窗之左右两侧,二上滚轴系设置于检测窗前方且位于二下滚轴之相对位置,二下滚轴与二上滚轴之间更形成一夹持区。
申请公布号 TWM267796 申请公布日期 2005.06.11
申请号 TW093214505 申请日期 2004.09.10
申请人 联策科技股份有限公司 发明人 林文彬
分类号 H05K10/00 主分类号 H05K10/00
代理机构 代理人 李长铭 台北市中山区南京东路2段53号9楼
主权项 1.一种自动光学检测装置,应用于检测电路板,包含:一影像撷取装置,用以撷取电路板表面之影像;一斜板,位于该影像撷取装置前方,用以撑托电路板,其中更具有一检测窗,使得该影像撷取装置得以透过该检测窗撷取该电路板表面之影像;一滑轨,位于该斜板下方,用以承载并带动电路板以进行检测;以及一滚轴组,位于该检测窗前方,用以夹持电路板,其中该滚轴组更包含二下滚轴以及二上滚轴,该二下滚轴系分别设置于该检测窗之左右两侧,该二上滚轴系设置于该检测窗前方且位于该二下滚轴之相对位置,该二下滚轴与该二上滚轴之间更形成一夹持区;当电路板经由该滑轨带动进入该夹持区时,藉由该滚轴组的夹持,使得该影像撷取装置得以透过该检测窗撷取该电路板表面之影像。2.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之斜板更具有一倾斜角度,使得电路板得以稳定的依附于该斜板上。3.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之检测窗系位于该斜板适当位置之长条形狭缝。4.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之滑轨系为钢带所组成。5.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之下滚轴之转动速度系同步于该滑轨之行进速度。6.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之上滚轴之转动速度系同步于该滑轨之行进速度。7.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之夹持区的宽度系小于等于电路板之厚度。8.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之二下滚轴以及该二上滚轴之表面均为橡胶材质。9.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之二下滚轴更能清洁电路板的表面,减少该自动光学检测装置判读的误差。10.如申请专利范围第1项之自动光学检测装置,其中上述之影像撷取装置系设置于一防震装置上,用以减低外在环境的震动所造成的影像撷取误差。图式简单说明:第一图为习知自动光学检测装置;第二图为习知自动光学检测装置因电路板变形造成检测误差之示意图;第三图为本创作较佳实施例之自动光学检测装置的局部侧向透视图;第四A图为本创作较佳实施例关于滚轴组与电路板之相对位置的关系示意图;以及第四B图为根据第四A图之A-A'连线区域之剖面图。
地址 桃园县龟山乡复兴一路361号B1