| 主权项 |
1.一种用于评估一运用在数位通讯系统中所设计 之发射器的方法,包括: a)将一发射器输出模型化,以应用在第一及第二测 试频道; b)将至少一减损引进到该等频道之至少一频道;及 c)比较该等频道以决定减损对一发射器输出之影 响,以帮助发射器设计。 2.如申请专利范围第1项之方法,其中该减损是一种 线性减损。 3.如申请专利范围第1项之方法,其中该减损是一种 非线性减损。 4.如申请专利范围第1项之方法,其中至少引进一线 性及非线性减损。 5.一种用于评估一运用在数位通讯系统中所设计 之接收器的方法,包括: a)将一接收器输出模型化,以应用在第一及第二测 试频道; b)将至少一减损引进到该等频道之至少一频道;及 c)比较该等频道以定减损对一一接收器输出之减 损之影响,以帮助接收器设计。 6.如申请专利范围第5项之方法,其中该减损是一种 线性减损。 7.如申请专利范围第5项之方法,其中该减损是一种 非线性减损。 8.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含以 I/Q复合表示来模型化一基频信号。 9.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含将 基频的振幅不平衡RF减损模型化。 10.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位不平衡RF减损模型化。 11.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位跳动RF减损模型化。 12.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的载波泄漏RF减损模型化。 13.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的载波偏移RF减损模型化。 14.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频DC偏移RF减损模型化。 15.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位波纹RF减损模型化。 16.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的增益波纹RF减损模型化。 17.如申请专利范围第1项之方法,其中步骤(b)包含 将调幅调变模型-基频的调幅调变失真RF减损模型 化。 18.如申请专利范围第1项之方法,其中之步骤(b)包 括调幅调变模型化-基频的相位调变失真RF减损模 型化。 19.如申请专利范围第1项之方法,进一步包括评估 非理想有限脉冲响应(FIR)滤波模型化。 20.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含模型 化在一无线环境中遇到之至少一减损。 21.如申请专利范围第1项之方法,进一步包含在一 有线环境中遭遇之至少一减损的模型化。 22.如申请专利范围第14项之方法,其中一相位波纹 透过延迟功能、乘法器功能、加法功能及正规化 功能的运用来实施。 23.如申请专利范围第15项之方法,其中透过延迟功 能、乘法器功能及加法功能的运用来实施一增益 波纹减损。 24.一种用于评估一运用在数位通讯系统中所设计 之发射器的方法,包括: 将一发射器输出模型化,以应用在一测试频道中; 将至少一减损引进到该频道;及 决定减损对一发射器输出之影响,以帮助发射器设 计。 25.一种用于评估一运用在数位通讯系统中所设计 之接收器的方法,包括: 将一接收器输出模型化,以应用在一测试频道中; 将至少一减损引进到该频道;及 决定减损对一接收器输出之影响,以帮助接收器设 计。 26.如申请专利范围第24项之方法,其中该模型系以C 语言编写程式码。 27.如申请专利范围第25项之方法,其中该模型系以C 语言编写程式码。 28.如申请专利范围第26项之方法,其中将模型滙入 一用于提供所需模拟的测试副程式(bench)。 29.如申请专利范围第24项之方法,其中在基频进行 模型化。 30.如申请专利范围第5项之方法,其中在基频进行 模型化。 31.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的调幅不平衡RF减损模型化。 32.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位不平衡RF减损模型化。 33.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位跳动RF减损模型化。 34.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将基频的相位波纹RF减损模型化。 35.如申请专利范围第5项之方法,其中步骤(b)包含 将在基频的增益波纹RF减损模型化。 图式简单说明: 图1显示对解释本发明的方法学有用处的简化发射 器。 图2显示对解释本发明的方法学有用处的简化上行 链路接收器。 图3显示对解释本发明的方法学有用处的简化下行 链路接收器。 图4显示相位波纹诱导的时域表示平面图。 图5显示相位波纹模型的图解。 图6显示增益诱导的时域表示平面图。 图7显示增益波纹模型的方块图。 |
