发明名称 陶瓷加热器
摘要 本发明之目的系提供一最适用于作为半导体制造检查装置用基板之陶瓷基板,其昇温特性、高温下的耐电压及杨氏系数优异。本发明之陶瓷基板,系在表面成内部形成有导电体者,其特征在于,该陶瓷基板藉氦检漏仪测定之漏气量为1×10-12~10-7Pam3/sec(He)。
申请公布号 TWI234216 申请公布日期 2005.06.11
申请号 TW090105755 申请日期 2001.03.13
申请人 IBIDEN股份有限公司 发明人 平松 靖二;伊藤 康隆
分类号 H01L21/66;H01L21/68 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 林镒珠 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 1.一种陶瓷加热器,系在非氧化物陶瓷所构成之陶 瓷基板之表面或内部形成发热体而构成者,其特征 在于: 该陶瓷基板,系将非氧化物陶瓷原料粉末实施加压 烧结,而使其含有0.05~10重量%之氧, 藉此使其漏氦量在氦检漏仪测定下为110-12~10-7Pa m3/sec(He)。 2.一种陶瓷加热器,系在非氧化物陶瓷所构成之陶 瓷基板之表面或内部形成发热体而构成者,其特征 在于: 该陶瓷基板,系将非氧化物陶瓷原料粉末和氧化物 之烧结助剂实施加压烧结,而使其含有0.05~10重量% 之氧, 藉此使其漏氦量在氦检漏仪测定下为110-12~10-7Pa m3/sec(He)。 图式简单说明: 图1系示意地显示使用本发明的陶瓷基板之陶瓷加 热器的一例之俯视图。 图2系图1的陶瓷加热器之局部扩大截面图。 图3系示意地显示使用本发明的陶瓷基板之静电夹 头的一例之截面图。 图4系图3的静电夹头之A-A线截面图。 图5系示意地显示使用本发明的陶瓷基板之静电夹 头的一例之截面图。 图6系示意地显示使用本发明的陶瓷基板之静电夹 头的一例之截面图。 图7系示意地显示使用本发明的陶瓷基板之静电夹 头的一例之截面图。 图8(a)~(d)系示意地显示图3的静电夹头之制程的一 例之截面图。 图9系示意地显示构成本发明静电夹头的静电电极 形状之水平截面图。 图10系示意地显示构成本发明静电夹头的静电电 极形状之水平截面图。 图11系示意地显示将本发明静电夹头嵌入支持容 器的状态之截面图。 图12系示意地显示使用本发明陶瓷基板的晶圆检 测器之截面图。 图13系示意地显示图12的晶圆检测器之保护电极的 截面图。
地址 日本