发明名称 Apparatus and method for performing a defect leakage screen test for memory devices.
摘要
申请公布号 HK1030485(A1) 申请公布日期 2005.06.10
申请号 HK20010101440 申请日期 2001.02.28
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;INFINEON TECHNOLOGIES NORTH AMERICA CORPORATION 发明人 HOUGHTON, RUSSELL, J.;NORRIS, ALAN, D.;CLINTON, MICHAEL, P.;SCHNELL, JOSEPH, T.;ENK, KLAUS, G.
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G11C11/401;G11C29/02;G11C29/04;G11C29/50;H01L21/66;H01L21/8242;H01L27/108;(IPC1-7):H01L;G01R;G11C 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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