Test method for integrated circuit,申请号EP20010128794-传众专利搜索

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发明名称	Test method for integrated circuit
摘要
申请公布号	EP1217630(A3)	申请公布日期	2005.06.08
申请号	EP20010128794	申请日期	2001.12.04
申请人	ATMEL GERMANY GMBH;VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH	发明人	EICHIN, MATTHIAS;KURZ, ALEXANDER
分类号	G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G01R31/28
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