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经营范围
发明名称
Anordnung und Verfahren zur Phasenmessung
摘要
申请公布号
DE69732085(T2)
申请公布日期
2005.06.02
申请号
DE19976032085T
申请日期
1997.07.18
申请人
TEKTRONIX, INC.
发明人
BLAZO, STEPHEN F.
分类号
G01R25/00;G01R29/02;H03L7/06;H04J3/00;H04L1/20;H04L7/00;(IPC1-7):H04L1/20
主分类号
G01R25/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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