| 摘要 |
Ein Verfahren zur Probenablage, bei dem mindestens eine Probe (10) auf einem Substrat (30) angeordnet wird, umfasst die Schritte Positionierung eines Probendispensers (20) über dem Substrat (30) und Betätigung des Probendispensers (20), so dass die Probe (10) vom Probendispenser (20) entlang einer Flugbahn (11) zu einer vorbestimmten Ablageposition (32) auf dem Substrat (30) bewegt wird, wobei wenigstens ein Teil der Flugbahn (11) gegen elektrische Störfelder abgeschirmt wird. Es wird auch ein Substrat (30) zur Aufnahme von Proben (10), mit einem Substratkörper (31), auf dessen Oberfläche mindestens eine Ablageposition (32) vorgesehen ist, und einer Abschirmelektrode (40) beschrieben, die zur elektrostatischen Abschirmung des Raumes oberhalb der mindestens einen Ablageposition (32) gegen elektrische Störfelder eingerichtet ist. |
