发明名称 用于基体电路制造之光阻剥离及/或光罩清洁之处理程序
摘要 本发明揭示一种用于积体电路制造的光罩清洁及/或剥离光阻的方法及系统,其包括将一硫酸与臭氧之混合物(SOM)引入一光罩之表面,同时施加超声波能量的一处理及构件。本发明亦包括包含将臭氧化去离子水及/或一低温稀释水溶液(dAPM)引入光罩之该表面,同时施加超声波能量之一处理及构件的方法及系统。该处理及装置亦从光罩表面移除后电浆灰化残余物及其他污染物。
申请公布号 TW200517795 申请公布日期 2005.06.01
申请号 TW093123002 申请日期 2004.07.30
申请人 安可龙有限公司 发明人 爱斯枚尔 加席古希;里查 诺瓦克;谨 翔 陈
分类号 G03F7/42 主分类号 G03F7/42
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 美国