半导体记忆装置及其制造方法

摘要

首先，如同知技术般，利用列冗余或行冗余来修复故障单元，对于无法藉由列或行冗余修复的剩余之故障单元则藉由增加再新的次数至大于正常之单元的再新次数之方式加以修复，而能修复更多之故障单元。