发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 本发明揭露一种半导体元件之制造方法。该方法包含下列步骤:制备一个半完成半导体基板;在该半完成半导体基板上,形成牺牲层;藉由使用岛型光阻图案,将牺牲层制作图案,因此可以至少得到一个曝露部分半完成半导体基板之接触孔洞;及在牺牲层上形成导电层。
申请公布号 TW200518207 申请公布日期 2005.06.01
申请号 TW093118964 申请日期 2004.06.29
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 安明圭
分类号 H01L21/28;H01L21/44 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 何金涂;林荣琳
主权项
地址 韩国