发明名称 源极/汲极的制造方法及使用该方法制造的电晶体
摘要 本发明提供一种具有低接面电容值之源极/汲极的制造方法及使用此源极/汲极之电晶体,在形成源极/汲极之一实施例中,先于邻接电晶体闸极之基材中形成一凹型区域,并且于凹型区域的下表面形成一深掺杂区域,接着于凹型区域内磊晶成长一半导体材质,并且在闸极附近形成轻微掺杂汲极区域。
申请公布号 TW200518202 申请公布日期 2005.06.01
申请号 TW093115372 申请日期 2004.05.28
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 郑水明
分类号 H01L21/265;H01L21/336 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号