发明名称 具有自动控制参数取得系统之辐射照射系统
摘要 本发明揭示一辐射照射系统,此辐射照射系统包含一控制参数取得系统,用来取得与一等待辐射照射物件相关之参数资料。辐射照射系统包含一用来量测电子射线被吸收剂量的设备,被吸收剂量为受到辐射照射之物件所吸收之电子射线的剂量。被吸收剂量能够在辐射照射程序中持续地被量测,并且据以调整辐射照射系统的作业参数。
申请公布号 TW200517677 申请公布日期 2005.06.01
申请号 TW093129943 申请日期 2004.10.01
申请人 史戴瑞思股份有限公司 发明人 瑟基A 柯瑞内芙
分类号 G01T1/167;G06F19/00 主分类号 G01T1/167
代理机构 代理人 周信宏
主权项
地址 美国