发明名称 | 无电镀敷法和在其上形成金属镀层的半导体晶片 | ||
摘要 | 本发明的目的是提供在其上形成适用于晶种层的薄、光滑、均匀且粘附性好的无电镀层的半导体晶片,和提供适用于制造此半导体晶片的无电镀敷方法。用具有能捕获金属的官能团的硅烷偶联剂的溶液涂布半导体晶片,再涂以钯化合物如氯化钯等的有机溶剂溶液。然后使所述晶片进行无电镀敷。作为此无电镀敷方法的结果,可获得厚度为70至5000埃且平均表面粗糙度Ra为10至100埃的半导体晶片。 | ||
申请公布号 | CN1623009A | 申请公布日期 | 2005.06.01 |
申请号 | CN03800172.1 | 申请日期 | 2003.03.26 |
申请人 | 株式会社日矿材料 | 发明人 | 伊森彻;关口淳之辅;矢部淳司 |
分类号 | C23C18/28;H01L21/288 | 主分类号 | C23C18/28 |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 林柏楠;刘金辉 |
主权项 | 1.一种无电镀敷方法,包括:用具有能捕获金属的官能团的硅烷偶联剂的溶液涂布待镀表面,再用钯化合物的有机溶剂溶液涂布所述表面,和对所述表面进行无电镀敷。 | ||
地址 | 日本东京都 |