发明名称 | 光学信息记录媒质 | ||
摘要 | 一种光学信息记录媒质,其中最新指定了在保护层被多个层替代的情况下的折射率和厚度的范围,并且在这些范围内确定该保护层的折射率和厚度,从而确保即使保护层的厚度在±3μm内变化,光学信息记录媒质内的球面象差也大致在30mλrm内。 | ||
申请公布号 | CN1204556C | 申请公布日期 | 2005.06.01 |
申请号 | CN01816767.5 | 申请日期 | 2001.09.28 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 安田昭博;林一英;绪方大輔 |
分类号 | G11B7/24;G11B7/135 | 主分类号 | G11B7/24 |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 张政权 |
主权项 | 1.一种光学信息记录媒质,包括记录层,和包括至少第一到第m层的保护层,其中m≥2,该光学信息记录媒质的特征在于,当i是满足1≤i≤m的整数时,对于波长为405nm的光,保护层中的第i层的折射率为ni;第i层的厚度为di,并且当(a)等价于组成保护层的多层并能替代这多层的一层的组合折射率n被指定为n=((n1d1+n2d2+...+nmdm)/(d1/n1+d2/n2+...+dm/nm))0.5;(b)所述这一层的组合厚度被指定为d=((n1d1+n2d2+...nmdm)×(d1/n1+d2/n2+...dm/nm))0.5;以及(c)表达式f(n):f(n)=-109.8n3+577.2n2-985.5n+648.6被指定为与该保护层的组合厚度有关的一种设计准则时,第i层的折射率ni和组合折射率n等于或大于1.45并且等于或小于1.65,组合厚度和设计准则之间的差异d-f(n)等于或大于-10μm并且等于或小于10μm。 | ||
地址 | 日本国大阪府门真市 |