发明名称 |
印章核对装置、印章核对方法及印章核对程序 |
摘要 |
在本发明中,扫描仪(2)输入印章的印迹图像,预处理部分(4)生成剪切印迹图像而获得的核对印迹图像,重叠处理部分(5)从登记图像存储部分(6)中读取与核对印迹图像对应的登记印迹图像。重叠处理部分(5)生成重叠了核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像。然后,差异检测部分(7)基于重叠图像检测出核对印迹图像与登记印迹图像的形状不一致的差异部分。此外,掩模图案处理部分(9)将差异部分分割成多个区域,并依次算出表示各区域中差异部分的比率的差异比例,判断部分(8)基于所述差异比例来判断核对印迹图像与登记印迹图像的一致和不一致。由此,检测出核对印迹图像与登记印迹图像的局部差异,从而提高印章核对的精度。 |
申请公布号 |
CN1622119A |
申请公布日期 |
2005.06.01 |
申请号 |
CN200410037350.1 |
申请日期 |
2004.04.27 |
申请人 |
富士通株式会社;富士通先端科技 |
发明人 |
稻冈秀行;岸野琢已;胜又裕 |
分类号 |
G06K9/46;G06K9/62;G06F17/00;G06T7/00 |
主分类号 |
G06K9/46 |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
赵淑萍 |
主权项 |
1.一种印章核对装置,所述装置将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入,形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像,并根据所述重叠图像来进行核对,其特征在于包括:差异部分检测部件,检测所述重叠图像中的所述核对印迹图像与所述登记印迹图像的差异部分;特征量计算部件,算出表示所述差异部分的局部特征的特征量;和判断部件,根据由所述特征量计算部件算出的特征量来判断所述核对印迹图像与所述登记印迹图像是否相一致。 |
地址 |
日本神奈川县 |