发明名称 | 准双栅场效应晶体管的制备方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种基于体硅上的部分准SOI-FinFET器件的制备方法,属于CMOS超大规模集成电路制造技术领域。该方法包括:首先在体硅片上,离子注入对源漏进行掺杂,形成有源区;接着刻蚀fin区,和源漏区形成“工”字型的图形;然后淀积氮化硅保护fin区,同时继续刻蚀硅,进行氧化,形成fin区的准SOI结构;制备隔离区、栅介质、栅电极;最后采用常规CMOS工艺完成后续步骤,直至基于体硅技术的准SOI-FinFET器件制作完毕。本发明利用了淀积氮化硅来保护fin区然后氧化形成fin区的准SOI结构,工艺简便,成本低廉。 | ||
申请公布号 | CN1622301A | 申请公布日期 | 2005.06.01 |
申请号 | CN200410101543.9 | 申请日期 | 2004.12.23 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 陈刚;黄如;张兴;王阳元 |
分类号 | H01L21/336;H01L21/8238 | 主分类号 | H01L21/336 |
代理机构 | 北京君尚知识产权代理事务所 | 代理人 | 贾晓玲 |
主权项 | 1、一种准双栅场效应晶体管的制备方法,步骤包括:(1)在体硅片上,离子注入对源漏进行掺杂,形成有源区;(2)刻蚀fin区,和源漏区形成“工”字型的图形;(3)淀积氮化硅保护fin区,同时继续刻蚀硅,进行氧化,形成fin区的准SOI结构;(4)制备隔离区、栅介质、栅电极,采用常规CMOS工艺完成后续步骤,直至基于体硅技术的准SOI-FinFET器件制作完毕。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区颐和园路5号 |