发明名称 CdTe单晶和CdTe多晶及其制备方法
摘要 晶体中的氯浓度为0.1-5.0ppmwt、室温下的电阻率为1.0×10<SUP>9</SUP>Ω·cm或以上的CdTe单晶;和制备所述CdTe单晶的方法,该方法包括以掺杂了50-200ppmwt氯的CdTe多晶为原料,通过垂直温度梯度凝固法、水平温度梯度凝固法、垂直布里奇曼法、水平布里奇曼法和液封直拉法的任一种方法使晶体生长。
申请公布号 CN1623014A 申请公布日期 2005.06.01
申请号 CN02828598.0 申请日期 2002.11.29
申请人 株式会社日矿材料 发明人 平野立一
分类号 C30B29/48;C01B19/04 主分类号 C30B29/48
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 郭广迅;庞立志
主权项 1.CdTe单晶,其特征在于:晶体中的氯浓度为0.1-5.0ppmwt,室温下的电阻率为1.0×109Ω·cm或以上。
地址 日本东京都