摘要 |
LA INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFEROMETRICA PARA LA MEDICION DE FORMAS EN SUPERFICIES RUGOSAS DE UN OBJETO QUE SE DESEA MEDIR (7). LA MEDICION SE EFECTUA POR MEDIO DE RADIACION COHERENTE-CORTA, CON LO QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ O LA DURACION DE UN HAZ DE REFERENCIA (4) SE MODULAN PERIODICAMENTE Y SE COLOCAN EN INTERFERENCIA CON UN HAZ DE MEDICION (18) REFLEJADO POR LA SUPERFICIE DEL OBJETO MEDIDO (7), ANALIZANDOSE EN LA RADIACION INTERFERIDA EL MAXIMO DEL CONTRASTE DE INTERFERENCIA. AUNQUE DE SIMPLE CONSTRUCCION, EL DISPOSITIVO DE MEDICION CONSIGUE UNA ELEVADA PRECISION EN LA MEDICION, DADO QUE COMPRENDE UN SISTEMA DE INTERFEROMETRO DE MODULACION (IM) EN EL QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ SE MODIFICA POR MEDIO DE DEFLECTORES OPTICOS-ACUSTICOS (8, 9) Y UN DISPOSITIVO DE COMPENSACION (C1, C2) PARA CORREGIR LA INCOHERENCIA Y DISPERSION ESPACIALES. EN UN SISTEMA DE INTERFEROMETRO DE DEMODULACION (DI) COLOCADO AGUAS ABAJO, EL HAZ DE MEDICION (18) SE INTERFIERE CON EL HAZ DEREFERENCIA (4) Y SE TRANSMITE A UN FOTODETECTOR (11).
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