| 发明名称 | 一种测量微波介质透镜天线焦斑焦距的装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种测量微波介质透镜天线焦斑焦距的装置，其特征是：导轨13与标尺14固定在一起；介质透镜天线4通过支架11固定在导轨13的一端；红外热成像仪10通过支架12固定于与微波天线4相对的导轨13的另一端；热敏屏8固定在一非金属框架7内，非金属框架7通过一活动支架9置于导轨13上，介于微波天线4与红外热成像仪10之间，该支架9可以在导轨13上滑动并经标尺14指示其位置。采用该装置可以方便地测量出微波介质透镜天线焦斑和焦距的值。 | ||
| 申请公布号 | CN1619320A | 申请公布日期 | 2005.05.25 |
| 申请号 | CN200310110978.5 | 申请日期 | 2003.11.18 |
| 申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 余国芬;王文祥;孙嘉鸿;杨显志 |
| 分类号 | G01R29/10;G01S7/40 | 主分类号 | G01R29/10 |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1、一种测量微波介质透镜天线焦斑焦距的装置，包括：微波介质透镜天线(4)，其特征是它还包括：热敏屏(8)、红外热成像仪(10)、导轨(13)、标尺(14)。导轨(13)与标尺(14)固定在一起；介质透镜天线(4)通过支架(11)固定在导轨(13)的一端；红外热成像仪(10)通过支架(12)固定于与微波天线(4)相对的导轨(13)的另一端；热敏屏(8)固定在一非金属框架(7)内，非金属框架(7)通过一活动支架(9)置于导轨(13)上，介于微波天线(4)与红外热成像仪(10)之间，该支架(9)可以在导轨(13)上滑动并经标尺(14)指示其位置；调整透镜天线(4)、非金属框架(7)和红外热成像仪(10)，使微波天线(4)、热敏屏(8)和红外热成像仪(10)三者保持在一条直线上。 | ||
| 地址 | 610054四川省成都市建设北路二段四号 | ||