| 发明名称 | 一种多端口存储器的测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明有关于一种多端口存储器的测试方法，包括：(1)首先依次测试各个端口的外围互连线，如果外围互连线有故障，则进行故障诊断；如果外围互连线没有发现故障，则进行下列步骤；(2)通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试，如果存储器内部存储单元存在故障，则报告发生故障的地址；如果没有发现故障，则进行下列步骤；(3)依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试，如果地址译码器和输入/输出控制器有故障，则进行故障诊断；如果没有发现故障，则测试结束。本发明的测试方法完全覆盖了数据线、地址线、控制线、仲裁器、地址译码器和输入/输出控制器的常见故障，而且故障定位准确。 | ||
| 申请公布号 | CN1619705A | 申请公布日期 | 2005.05.25 |
| 申请号 | CN200310115354.2 | 申请日期 | 2003.11.19 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 李颖悟 |
| 分类号 | G11C29/00;G06F11/22 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李强 |
| 主权项 | 1、一种多端口存储器的测试方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：(1)、依次测试各个端口的外围互连线，如果外围互连线有故障，则进行故障诊断；如果外围互连线没有发现故障，则进行下列步骤；(2)、通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试，如果存储器内部存储单元存在故障，则报告发生故障的地址；如果没有发现故障，则进行下列步骤；(3)、依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试，如果地址译码器和输入/输出控制器有故障，则进行故障诊断；如果没有发现故障，则测试结束。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||