发明名称 存储器、写入设备、读取设备、写入方法和读取方法
摘要 一种存储器,包括:第一和第二记录层,用于利用晶相和非晶相之间的可逆相变来记录信息,该相变是因施加电流脉冲引起的温度升高而产生的。第一和第二记录层的结晶化温度T<SUB>X1</SUB>和T<SUB>X2</SUB>具有关系T<SUB>X1</SUB><T<SUB>X2</SUB>。第一和第二记录层的结晶化时间t<SUB>x1</SUB>和t<SUB>x2</SUB>具有关系t<SUB>x1</SUB>>t<SUB>x2</SUB>。R<SUB>a1</SUB>+R<SUB>a2</SUB>、R<SUB>a1</SUB>+R<SUB>c2</SUB>、R<SUB>c1</SUB>+R<SUB>a2</SUB>和R<SUB>c1</SUB>+R<SUB>c2</SUB>彼此不同,其中,非晶相中第一记录层的电阻值为R<SUB>a1</SUB>,晶相中第一记录层的电阻值为R<SUB>c1</SUB>,非晶相中第二记录层的电阻值为R<SUB>a2</SUB>,晶相中第二记录层的电阻值为R<SUB>c2</SUB>。
申请公布号 CN1203550C 申请公布日期 2005.05.25
申请号 CN01135992.7 申请日期 2001.10.29
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 西原孝史;儿岛理惠;山田升
分类号 H01L27/10;G11C11/00;G11B11/08;H01L45/00 主分类号 H01L27/10
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 蹇炜
主权项 1、一种存储器,包括:一第一记录层,用于通过利用晶相和非晶相之间的可逆相变来记录信息,该相变是因施加电流脉冲引起的温度升高而产生的;和一第二记录层,用于通过利用晶相和非晶相之间的可逆相变来记录信息,该相变是因施加电流脉冲引起的温度升高而产生的,其中,第一记录层的结晶化温度TX1和第二记录层的结晶化温度TX2具有关系TX1<TX2,第一记录层的结晶化时间tx1和第二记录层的结晶化时间tx2具有关系tx1>tx2,以及Ra1+Ra2、Ra1+Rc2、Rc1+Ra2和Rc1+Rc2彼此不同,其中,非晶相中第一记录层的电阻值为Ra1,晶相中第一记录层的电阻值为Rc1,非晶相中第二记录层的电阻值为Ra2,晶相中第二记录层的电阻值为Rc2。
地址 日本大阪