发明名称 |
具有透湿窗的铜互连线可靠性测量的测试图案及其制造方法 |
摘要 |
揭示一种具有透湿窗而能可靠性测量铜互连线的测试图案,及其制造方法。此方法的步骤包括:于基板上形成第一层间绝缘层;第一层间绝缘层内嵌入多个底部铜互连线;在多个底部铜互连线和第一层间绝缘层上形成第二层间绝缘层;第二层间绝缘层嵌入多个顶部铜互连线,并经由多个接触孔连接至多个底部铜互连线;以及多个顶部铜互连线上覆盖钝化层,其具有在电迁移测试时可透湿的多个透湿窗。 |
申请公布号 |
CN1619324A |
申请公布日期 |
2005.05.25 |
申请号 |
CN200410090793.7 |
申请日期 |
2004.11.11 |
申请人 |
海力士半导体有限公司 |
发明人 |
金相荣 |
分类号 |
G01R31/26;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
朱登河;王学强 |
主权项 |
1.一种制造测试图案的方法,其能可靠性测量具有透湿窗的铜互连线,其包括:半导体基板;形成于基板上的第一层间绝缘层;嵌入第一层间绝缘层内的多个底部铜互连线;多个底部铜互连线和第一层间绝缘层上的第二层间绝缘层;嵌入第二层间绝缘层的多个顶部铜互连线,并经由多个接触孔连接至多个底部铜互连线;以及覆盖多个顶部铜互连线的钝化层,其具有在电迁移测试时可透湿的多个透湿窗。 |
地址 |
韩国京畿道 |