用于楔块沉陷较浅或没有楔块沉陷的电气设备的测试探针

摘要

一种探针(100)，可检测楔块沉陷不超过100密耳的电气设备的异常情况。这种探针包括被检测线圈(104)包围的实心芯部(102)。芯部端部以无接触的间隔关系布置在定子(37、137)相邻叠片齿的相对表面之间并至少一部分位于所述相对表面的上方。在探针芯部端部和所述相对表面之间保持空气隙(108、109)。两个空气隙的总和是不变的。探针支承在滑动架(200、300)上能够沿定子齿移动。激励绕组(31)将定子激励到正常激励水平的百分之几，并对定子产生的漏磁通的变化进行监测。

主权项

1.一种检测装置，可检测有效楔块沉陷不超过200密耳的电气设备的异常情况，包括：探针(100)，具有漏磁通可穿过的结构，包括：探针芯部(102)，具有第一和第二检测端部；检测线圈(104)，缠绕在所述探针芯部周围；和探针滑动架(200、300)，包括：探针延伸件(216、316)，连接在所述探针；和至少一个调节所述探针位置的位置调节螺丝(218)，使所述探针以无接触的间隔关系位于所述电气设备相邻部分的相对表面(37、137)之间并至少一部分位于其上方，从而在所述芯部的所述第一和第二检测端部与所述相对表面之间形成第一(108)和第二(109)空气隙。