发明名称 |
Method and apparatus for accelerated post-silicon testing and random number generation |
摘要 |
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申请公布号 |
GB2400677(B) |
申请公布日期 |
2005.05.25 |
申请号 |
GB20040007535 |
申请日期 |
2004.04.01 |
申请人 |
* SUN MICROSYSTEMS, INC. |
发明人 |
KEITH H * BIERMAN;DAVID R * EMBERSON;LIANG T * CHEN |
分类号 |
G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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