发明名称 INTERFEROMETRIC DEVICE
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf eine interferometrische Messvorrichtung zur Mes­sung geometrischer Oberflächeneigenschaften mit einer Lichtabgabeeinheit (LQ) zum Erzeugen eines Eingangsstrahls (EST), einem diesen in einem zur Oberfläche eines Objekts geführten Objektstrahl (STO) und einen zu einer Referenz (R) ge­führten Referenzstrahl (STR) aufteilenden Strahlteiler (ST) und einer Aufnahme­einheit (BA, K), der der zurückgeworfene Objektstrahl und der zurückgeworfene Referenzstrahl unter Interferenz miteinander zugeführt werden. Einstellvorgänge der interferometrischen Messvorrichtung werden dadurch begünstigt, dass zu­mindest in den Strahlengang des Referenzstrahles (STR) eine Polfilteranordnung (PFR; PFR1, PFR2) eingefügt ist, mit der die Intensität des Referenzstrahles (STR) zum Ändern des von der Referenz (R) erhaltenen Grauwerts variierbar ist.
申请公布号 WO2005045403(A1) 申请公布日期 2005.05.19
申请号 WO2004DE01748 申请日期 2004.08.04
申请人 ROBERT BOSCH GMBH;SEIFFERT, THOMAS 发明人 SEIFFERT, THOMAS
分类号 G01B9/02;G01B11/24;G01N21/21;(IPC1-7):G01N21/21 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
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