| 发明名称 |
Testschaltkreis für integrierte Schaltkreise und Verfahren zum Testen |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE19738569(B4) |
申请公布日期 |
2005.05.19 |
| 申请号 |
DE19971038569 |
申请日期 |
1997.09.04 |
| 申请人 |
NATIONAL SEMICONDUCTOR CORP.(N.D.GES.D.STAATES DELAWARE), SANTA CLARA |
发明人 |
OURESHI, FAZAL UR REHMAN |
| 分类号 |
G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
