一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法

摘要

本发明涉及一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统及其测量方法。所述的测量系统包括样品支架、温差控制装置以及计算机控制；样品通过固定支架固定在支架上，且通过温差控制装置采用一端加热或冷却形成温差方法，样品上的T₁、T₂和ΔE电信号由支架装置引出到测试仪表的扫描卡，扫描卡按T₁、T₂、ΔE、T₂、T₁的扫描顺序依次扫描，输入纳伏仪且在计算机中获得数据，取两次T₁和T₂平均值计算出ΔT，按所得ΔE－ΔT关系，计算出赛贝克系数。本发明解决了ΔT的大小与测量精度相互矛盾的问题，每个温度点测量周期小于10分钟且对样品无特殊要求。

主权项

1、一种非平衡状态下赛贝克系数的测量系统，其特征在于：(a)测量系统包括样品支架、温差控制装置、以及计算机控制；(b)所述的样品支架其最外层的不锈钢管内焊入一细的不锈钢管，顶端平焊接一块金属板，通过固定支架使样品固定在平伸出的金属板上，整个样品支架装入一石英管中，且由密封圈气密；(c)所述的温差控制装置是在平伸出金属板上一端安装加热器，通入电流使样品两端产生不同的温差；(d)石英管(11)放在低温冷却系统或高温炉(10)中，石英管(11)通过样品支架上电信号的引出线与扫描仪(12)相连，扫描仪(12)与纳伏仪(2)相连，扫描仪(12)和纳伏仪(2)通过商用RS232接口与计算机(13)相连，构成整个测量系统。