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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR EMBEDED BUILT-IN SELF-TEST (BIST) OF ELECTRONIC CIRCUITS AND SYSTEMS
摘要
申请公布号 EP1451599(A4) 申请公布日期 2005.05.18
申请号 EP20020789591 申请日期 2002.11.12
申请人 INTELLITECH CORPORATION 发明人 RICCHETTI, MICHAEL;CLARK, CHRISTOPHER, J.
分类号 G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/318 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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